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产品介绍

光学式膜厚计 OPM系列

OPM-Z1 优点

  • 使测量波长范围达到350〜1100nm
  • 采用了色差很少的光纤系统
  • 采用了光量信号的数字信号处理
  • 测量波长的设定精度可以达到0.1nm

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※产品规格如因提高性能之需而变更,恕不提前通知。详情请向本公司营业人员咨询。