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製品情報

光学式膜厚計 OPMシリーズ

OPM-Z1 特徴

  • 350~1100nmの測定波長範囲を実現
  • 色収差の少ないファイバ光学系を採用
  • 光量信号のデジタル信号処理を採用
  • 測定波長の設定精度0.1nmを実現

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