这是控制高精度光学薄膜的光学式膜厚仪。

用途:
元件

特点

  1. 采用了色差很少的纤维光学系统
  2. 采用了光量信号的数字信号处理
  3. 测量波长的设定精度可以达到0.1nm

规格概要

型号 OPM-Z1-VIS OPM-Z1-UV OPM-Z1-NIR OPM-D1-VIS
支持波长 可见光 紫外线 近红外线 可见光
波长驱动范围 350nm-1100nm 200nm-800nm 700nm-2400nm 350nm-1100nm
监测方式 间接(监测玻璃) 直接(伞架上的实基片)
垂询
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