这是控制高精度光学薄膜的光学式膜厚仪。
- 用途:
- 元件
特点
- 采用了色差很少的纤维光学系统
- 采用了光量信号的数字信号处理
- 测量波长的设定精度可以达到0.1nm
规格概要
型号 | OPM-Z1-VIS | OPM-Z1-UV | OPM-Z1-NIR | OPM-D1-VIS |
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支持波长 | 可见光 | 紫外线 | 近红外线 | 可见光 |
波长驱动范围 | 350nm-1100nm | 200nm-800nm | 700nm-2400nm | 350nm-1100nm |
监测方式 | 间接(监测玻璃) | 直接(伞架上的实基片) |
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