高精度な光学薄膜を制御する光学式膜厚計です。
- 用途：
- コンポーネンツ
特徴
- 色収差の少ない
ファイバ光学系を採用 - 光量信号の
デジタル信号処理を採用 - 測定波長の設定精度
0.1nmを実現
仕様概要
| 型式 | OPM-Z1-VIS | OPM-Z1-UV | OPM-Z1-NIR | OPM-D1-VIS |
|---|---|---|---|---|
| 対応波長 | 可視 | 紫外 | 近赤外 | 可視 |
| 波長駆動範囲 | 350nm〜1100nm | 200nm〜800nm | 700nm〜2400nm | 350nm〜1100nm |
| モニタ方式 | 間接（モニタガラス） | 直接（ドーム上の実基板） | ||
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営業部
※製品の仕様は、性能向上のため予告なく変更されることがございます。詳しくは、当社営業スタッフまでお問い合わせください。